Метрология

Мы выполняем работы по измерению и исследованию поверхностного рельефа на заказ

  • Измерения на атомно-силовом микроскопе Solver 47H Pro
    • для образцов габаритами не более 30 × 30 мм
    • для высоты рельефа от 10 нм до 1 мкм
    • разрешение порядка 1 нм.
  • Измерения на микроинтерферометре МИИ-4
    • для образцов габаритами не более 50 × 50 мм
    • для высоты рельефа от 100 нм до 10 мкм
    • разрешение порядка 10 нм
  • Измерения на оптических микроскопах Zeiss Axio Imager Z2 Vario и Zeiss Axiso Imager A1
    • Разрешение порядка 0,3 мкм
  • Измерения на электронном микроскопе Zeiss Evo MA10
  • Измерения на микропрофилометре ​Surfcoder SE 1700a