Выполняем работы по измерению и исследованию поверхностного рельефа. С помощью имеющегося у нас измерительного оборудования есть возможность исследовать поверхность образцов, измерить линейные размеры элементов структуры, получить одномерное, двухмерное и трёхмерное изображение рельефа поверхности.
Сканирующий зондовый микроскоп Solver 47H Pro.
Предназначен для исследования поверхностного рельефа образца.
Требования к образцу:
- Твёрдый немагнитный материал
- Габариты 1х1х1 см.
- Верхняя и нижняя грани строго плоскопараллельны.
- Площадь сканирования до 30х30 мкм.
- Перепад высоты поверхностного рельефа на измеряемом участке до 1 мкм.
Оптический микроскоп Zeiss «Axio Imager Vario Z.2
Микроскопы серии «Axio Imager» являются универсальными микроскопами и предназначены для прикладного применения в области биологии, медицины, металлографии и материаловедения. Позволяет изучать поверхность образцов с размерами до 10х20х20 см (ВхШхГ) с увеличением от 50 до 1500 крат.
