Метрология (предыдущая версия)

Выполняем работы по измерению и исследованию поверхностного рельефа. С помощью имеющегося у нас измерительного оборудования есть возможность исследовать поверхность образцов, измерить линейные размеры элементов структуры, получить одномерное, двухмерное и трёхмерное изображение рельефа поверхности.

Сканирующий зондовый микроскоп Solver 47H Pro.

Предназначен для исследования поверхностного рельефа образца.

Требования к образцу:

  • Твёрдый немагнитный материал
  • Габариты 1х1х1 см.
  • Верхняя и нижняя грани строго плоскопараллельны.
  • Площадь сканирования до 30х30 мкм.
  • Перепад высоты поверхностного рельефа на измеряемом участке до 1 мкм.
  •  

Оптический микроскоп Zeiss «Axio Imager Vario Z.2

Микроскопы серии «Axio Imager» являются универсальными  микроскопами и предназначены для прикладного применения в области биологии, медицины, металлографии и материаловедения. Позволяет изучать поверхность образцов с размерами до 10х20х20 см (ВхШхГ) с увеличением от 50 до 1500 крат.